杭州电子科技大学科研团队最近研发了一种基于对称导联脑电EEG特征分析的脑损伤判别新方法，这种新方法为开发一种低成本、可床边使用、无辐射、便携式的脑损伤判别仪器提供了可能。

这项研究成果发表于《科学通报》2013年第21期。论文第一作者为团队成员李轶博士和研究生赵波，团队负责人杭州电子科技大学生物医学工程系杨勇教授担任通讯作者，合作单位为浙江省武警总医院。

目前，对脑损伤的判别主要通过CT、磁共振检查，而CT、磁共振设备价格昂贵、体积大、检查费用高、有辐射副作用等缺陷，因此开发一种低成本、可床边使用、无辐射、便携式的脑损伤判别仪器在临床上研究具有重要意义。

研究团队通过与浙江省武警总医院合作，以严重脑外损病人为研究对象，利用大脑左右半球结构对称性的特性，通过分析比较损伤脑区与对侧（对称的）未损伤脑区脑电慢波频率以及脑电复杂性两个特征参数，发现损伤脑区与未损伤脑区特征参数比值有统计学显著性差异，对称导联脑电EEG特征分析方法能够很好实现对脑损伤进行判别，其判别与CT 影像学结果相吻合。

团队接下来的工作将进行更大临床样本的验证、以及相关软件的开发，使这种新方法成为一种临床脑损伤判别新技术。

研究得到了国家自然科学基金资助项目(批准号: 30770685)，国家重点基础研究发展计划(2013CB329502);浙江省自然科学基金(LY12F03003)资助。

更多信息可查阅来源论文：

李轶、赵波、杨文伟、李景琦、徐伟栋、徐莹、沈蔡娴、厉力华、杨勇. 基于对称导联EEG特征分析的脑损伤部位判别. 科学通报,2013,58(21):2087-2093.    

论文链接：http://csb.scichina.com:8080/kxtb/CN/abstract/abstract511898.shtml