Nano Letters. DOI:dx.doi.org/10.1021/nl501480f

最近，我们的合作伙伴用OxideMBE制备了一系列VO2/TiO2(001)外延膜，发现MIT转变温度随膜厚减小连续向低温移动；

然后，我们用同步辐射X射线倒易空间扫描RSM测量了这些薄膜的应变状态，发现很薄的VO2膜是完全应变的（面内张应变），随膜厚增大，面内应变逐渐释放；面内应变的这些变化与MIT转变温度的变化是一致的，说明应变可以用来连续调控MIT温度；

这里面还有一些有意思的结构信息，比如，尽管面内应变释放了，我们还是没有看到单斜相VO2的衍射特征（峰的劈裂），暗示薄膜样品与粉体样品结构差异很大。

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