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热点技术讨论:3D设计中的挑战

已有 2196 次阅读 2009-12-24 13:33 |个人分类:科学研究|系统分类:观点评述|关键词:学者| 3D设计, 直通硅晶穿孔, TSV

热点技术讨论:3D设计中的挑战

http://info.ec.hc360.com/2009/12/230832172141.shtml

2009/12/23/08:32 来源:电子工程专辑

    伴随《Avatar》精彩预告片的曝光,3D欲将激起新一片技术追求的浪潮。3D技术也成为近来最热门的新一代IC设计技术话题之一。

    芯片制造商正在探索将目前的电子组件堆栈成3D结构之可能性;专家对“真正”的3D封装之定义,是将不同的IC垂直重迭并以直通硅晶穿孔(through-siliconvias,TSV)技术来连结。该种方式旨在缩短芯片之间的导线、缩小组件尺寸并提高运作带宽。    

    到目前为止,芯片制造商采用TSV技术生产的3D组件十分有限,主要是CMOS影像传感器、MEMS以及某种程度上的功率放大器(PA);多年来,IBM、Intel等厂商也试图利用TSV技术来堆栈微处理器、内存或其他IC。    

    以IBM为例,该公司已经用TSV技术生产出功率放大器,并发表了数个3D处理器研发成果,不过可能要等到2012年以后才能达到量产目标;至于另一家大厂Intel则还未找到3D芯片的“杀手级应用”。    

    实际上,芯片制造商也在3D堆栈技术领域遭遇到不少障碍;根据IBM工程师JohnKnickerbocker的说法,以TSV技术生产3D组件有五大挑战:    

    1.缺少EDA设计工具辅助;“设计工具还有成长空间。”Knickerbocker指出。    

    2.设计复杂度;目前产业界生产的3D组件其实用到相对数量较少TSV,而关键是如何在堆栈中用上更多的TSV?此外,要让复杂的3D设计散热也是一个挑战。    

    3.封装与测试的整合;目前还不清楚未来采用TSV技术的3D芯片会是由IDM厂生产,或是与现有IC一样采用晶圆代工厂、IC封测厂分工的模式。但有件事很明显:“测试将会是所有人面临的挑战。”    

    4.不同功能系统的组合;要将诸如RF、内存与微处理器等功能整合在同一颗组件中,是一个挑战。    

    5.标准;包括SEMI、Sematech都对3D芯片有不同的规格标准,还有其他产业组织也有不同的发展方向。



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