闵应骅的博客分享 http://blog.sciencenet.cn/u/ymin 一位IEEE终身Fellow对信息科学及其发展的看法

博文

一个高端测试技术系列国际研讨会WRTLT(091203)

已有 4916 次阅读 2009-12-3 11:20 |个人分类:微电子|系统分类:科研笔记|关键词:学者| 测试技术

一个高端测试技术系列国际研讨会WRTLT(091203)
闵应骅
    WRTLT的全称是IEEE Workshop on Register transfer level and high level testing(IEEE高端测试技术系列国际研讨会)。今年的WRTLT09于11月27-28在香港召开。我与WRTLT也有故事。
    我在前面的博文中曾经谈到,IEEE主办的国际学术会议分为三级:500人以上的会叫Conference;100-500个参加者算是Symposium;而100人以下的会则称Workshop,中文翻成“研讨会”。研讨会是以讨论问题为主,不以发表文章为主,有的研讨会甚至不印论文集。参加这种研讨会完全是为了学术交流、研讨问题的目的而去的,不是为了在EI上增加一篇文章。
    在集成电路测试领域,从过去到现在,主要是在逻辑级上进行,以检查芯片的逻辑功能是否正确。随着集成电路越来越复杂,芯片上几百万晶体管,看不见、摸不着,即使在逻辑级也很困难。1980年代开始,有人研究寄存器传输级的测试生成。1982年本人在美国做访问学者时,就在DAC(Design automation conference)上发表了一篇文章,“Testing Functional Faults in VLSI,”,就是对特大规模集成电路进行寄存器传输级的测试生成。该文得到过几十次引用,但是,寄存器传输级的测试仍然没有得到工业界的广泛采用。到如今纳米电子时代,高端测试技术更显重要。
    WRTLT创建于2000年。那时,我与藤原秀雄教授商量,应该搞寄存器传输级测试。由我出任第一届执委会主席。当时我是湖南大学特聘教授,所以,第一届IEEE寄存器传输级测试技术国际研讨会就在湖南大学召开,由我与藤原秀雄教授任主席,张大方教授为程序主席。研讨会在号称千年学府的岳麓书院举行。面对孔老夫子的塑像,研讨的是洋学,讲的是洋文。不过,孔夫子也说过:“有朋自远方来,不亦乐乎”。此后,WRTLT曾在日本、印度、中国等地举行。
    今年的第8届WRTLT09是在香港中文大学举行,Duke大学的K.Chakrabarty教授为主席,香港中文大学的徐强教授和中科院计算所韩银河副研究员为程序主席。University of Texas at Austin的著名教授Jacob Abraham做了很精彩的特邀报告。据我所知,他是美国第一位拥有私人飞机的教授,也是我30年的老朋友。他在测试和容错领域做了许多开创性的工作,人所共知。他培养了70名博士,在各主要设计与测试公司占据重要席位。本人在研讨会的第二天提出了一个比较震撼人的问题:全扫描可测试性设计是不可动摇的吗?与会者基本上同意我的分析,但是,全扫描设计要不要变,还仍然是个问题。让我们静观其变。
    我相信,WRTLY必定会越来越兴旺。

https://m.sciencenet.cn/blog-290937-275768.html

上一篇:参观天河一号超级计算机(091123)
下一篇:澳门之旅(091205)

0

发表评论 评论 (1 个评论)

数据加载中...
扫一扫,分享此博文

Archiver|手机版|科学网 ( 京ICP备07017567号-12 )

GMT+8, 2024-5-18 14:15

Powered by ScienceNet.cn

Copyright © 2007- 中国科学报社

返回顶部