目前，计划在晶体管退化效应分析以及抗退化电路结构方面进行研究，但是有一个比较困扰的难题，就是如何去验证自己的想法，例如精确的晶体管模型，电路退化结构是否有效？如果单纯利用HSPICE进行仿真，其效力有限，但是如何是流片，网上所说的流片价格又难以接受，真是左右为难啊。


转载本文请联系原作者获取授权，同时请注明本文来自杨智明科学网博客。
链接地址：https://m.sciencenet.cn/blog-285028-648999.html

上一篇：期刊学习日记1-2012年12月31日
下一篇：昌黎先生名作两篇